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掃描電鏡的基本原理詳細介紹下

 更新時間:2024-05-24 點擊量:1432
  掃描電鏡是一種將物質(zhì)表面形貌放大成圖像的高分辨率成像技術(shù),它采用電子束掃描樣品表面,誘發(fā)樣品表面與電子束相互作用后所產(chǎn)生的多種信號,利用這些信號進而形成圖像。掃描電鏡可觀察材料表面形貌、成分分析和結(jié)構(gòu)表征、宏觀形貌等方面,具有高分辨率、分析功能以及適用范圍廣等優(yōu)勢。因此,掃描電鏡已經(jīng)成為表面形貌研究和材料科學等領(lǐng)域的重要工具。
 
  掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
 
  掃描電鏡有一個電子發(fā)射槍,從槍中會發(fā)射出加速、聚焦過的電子,在用這些電子來撞擊樣品。樣品在受到撞擊后會產(chǎn)生如同水波一般的信號,另一個接收器會用來接收這些信號。這些信號有許多不同的種類,不同的信號有不同的用途,可以對樣品多個方面的表現(xiàn)進行檢測。因此,掃描電鏡除了可以成像外,還可以用來分析樣品的成分形貌,對樣品的元素進行分析。
 
  掃描電鏡(掃描電子顯微鏡)的基本原理是利用高能聚焦的電子束掃描樣品表面,通過電子束與物質(zhì)間的相互作用激發(fā)出各種物理信息,如二次電子、背散射電子等。這些物理信號的強度隨樣品表面特征而變化,并被相應(yīng)的收集器接受,經(jīng)過放大器放大后,送到顯像管的柵極上,用來同步地調(diào)制顯像管的電子束強度,即在熒光屏上形成與樣品表面特征相對應(yīng)的畫面。

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