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樣品制備:如何分散粉末以獲得優(yōu)異的掃描電鏡圖像

 發(fā)布時間:2019/2/28 點擊量:1676
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由于增材制造的重要性日益提高,顆粒分析變得越來越重要,導(dǎo)致工業(yè)制造商對產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴格。除了產(chǎn)量大化外,制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當(dāng)尺寸和形態(tài)的顆粒。

 

在本篇文章中,將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現(xiàn)顆粒均勻分散,并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)分析顆粒。

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室

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